描述：高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測(cè)試與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便，可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜、

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2025-04-22
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詳細(xì)介紹

品牌	Microtrac MRB/拜爾	產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)（用于陶瓷，薄膜，粉末，塊體）

高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測(cè)試與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。

系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便，可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜、阻抗頻譜、介電溫譜、阻抗溫譜、導(dǎo)納譜、cole-cole圖以及C-V特性。